全自動(dòng)星形光束分析
RIT 的增強(qiáng)型膠片星形光束檢測(cè)程序具有全自動(dòng)界面,并采用了穩(wěn)健、高精度的人工智能算法。極性ROl、輻條數(shù)量和輻條中心區(qū)域自動(dòng)從圖像中提取并應(yīng)用于分析。

RITG142軟件不僅能讓您執(zhí)行機(jī)器質(zhì)量保證、MLC 質(zhì)量保證和成像質(zhì)量保證測(cè)量,還能簡(jiǎn)化在您的設(shè)備上創(chuàng)建常規(guī)質(zhì)量保證計(jì)劃的過程,簡(jiǎn)化認(rèn)證報(bào)告流程,并讓您更好地了解多臺(tái)機(jī)器和設(shè)備的測(cè)量性能。
適用于 Elekta 設(shè)備的 Hancock 測(cè)試
Hancock 測(cè)試(2 幅圖像測(cè)試、4 幅圖像測(cè)試和帶后備鉗口測(cè)試)使用 Elekta iView "成像儀自動(dòng)測(cè)量葉片位置與等中心位置的對(duì)比,以及鉗口葉片后移測(cè)量(如適用)。
Elekta 片葉速度測(cè)試
該測(cè)試對(duì)準(zhǔn)兩幅圖像,分析 Elekta iView" 和 Agility 的片葉速度一致性
EPID 柵欄測(cè)試
對(duì)于瓦里安和 Elekta,該例行程序自動(dòng)執(zhí)行經(jīng)典的柵欄測(cè)試
附加 MLC 測(cè)試
這些測(cè)試包括:Bayouth MLC 測(cè)試、TGM MLC 測(cè)試、TGM MLC 測(cè)試、TGM MLC 測(cè)試、TGM MLC 測(cè)試、TGM MLC 測(cè)試、TGM MLC 測(cè)試、TGM MLC 測(cè)試、TGM MLC 測(cè)試: Bayouth MLC 測(cè)試、TG-50 柵欄測(cè)試、MSK 葉片測(cè)試、瓦里安 DMLC 測(cè)試模式和 MLC 傳輸分析。
自動(dòng)瓦里安 RapidArc "測(cè)試
圖像可在與 EPlD、膠片或 CR 圖像之間的任何距離進(jìn)行拍攝。這包括 這些測(cè)試支持 Millennium 120HD120 MLC 和 Halcyon MLC 型號(hào)。
瓦里安葉片速度測(cè)試
在不使用日志文件的情況下,該測(cè)試測(cè)量瓦里安 MLC 葉片速度在相機(jī)上移動(dòng)時(shí)的一致性和準(zhǔn)確性。
瓦里安 Halcyon' MLC 分析
對(duì)瓦里安 Halcyon MLC 進(jìn)行柵欄或全面 RapidArc 分析。
RITG142直線加速器質(zhì)控軟件,RITG142質(zhì)控軟件適用體模:
兆伏級(jí)(MV EPID)成像QA模體
, Las Vegas, PTW EPID QC和 Standard lmaging QC-3模體
KV成像質(zhì)控模體
IBA Primus'L, PT NORMI 4 (20x20 and30x30 cm sizes), , 和
CBCT/MVCT質(zhì)控模體
和 - Varian,Catphan 503 Elekta XVl, 和 Siemens MVCT 模體
日檢 IGRT QA
ISOCube" Phantom: kV-MV lsocenterCoincidence,
CBCT lsocenterCoincidence, kV Collimation, MyCollimation / Light Field, and 6 Degree-of-Freedom Couch Tests
EPID 體模測(cè)試 (24 x 24 厘米)
5 個(gè)區(qū)域的恒定性
分辨率 (MTF)
均勻性
對(duì)比度
噪聲
幾何畸變